• 內(nèi)置S-參數(shù)測(cè)試儀
• 可選時(shí)域和掃描諧波測(cè)量
• 具有頻率偏置功能的混頻器測(cè)試
• 可選步進(jìn)衰減器

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• 可用于全部正向和反向測(cè)量的內(nèi)裝S-參數(shù)測(cè)試裝置，使您能通過(guò)一次連接全* 面評(píng)測(cè)元件
• 優(yōu)異的精度，經(jīng)過(guò)*全* 面的校準(zhǔn)
• 可選時(shí)域和掃描諧波測(cè)量
• 用頻率偏置能力作混頻器測(cè)試
• 可選步進(jìn)衰減器，以擴(kuò)展源輸出功率范圍
• 通過(guò)/失敗測(cè)試，內(nèi)插誤差校正，測(cè)試序列和用戶(hù)定義測(cè)試頻率，以提高生產(chǎn)能力
• 2個(gè)獨(dú)立的顯示通道，以同時(shí)測(cè)量反射和傳輸特性