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HP8753E射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀為滿足研制實驗室或生產(chǎn)制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供

了****的結(jié)合。8753E以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達110dB的動態(tài)范圍以

及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網(wǎng)絡(luò)、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的

解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號快達7倍之多。 網(wǎng)絡(luò)分析儀的

特點是有2個獨立的測量通道，可同時測量和顯示所有4個S參數(shù)。 可以選擇用幅度、相位、群延遲、圓圖、極坐標、駐波比或時域格式來顯示反射和傳輸參數(shù)的

任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個測量功能?？梢岳眠_4個刻度格子在高分辯率的

LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結(jié)果。為了驅(qū)動更大的外部監(jiān)視器，以便于觀

察，增加了與VGA兼容的輸出。 較好的通用性和性能 一個集成化的合成源提供了達10mW的輸出功率（用選件011可達100mW），1Hz的

頻率分辯率和線性頻率，對數(shù)頻率，列表頻率，CW和功率掃描功能。三個調(diào)諧接收機可以在6GHz（帶

有選件006頻率擴展）處105dB或3GHz（標準）110dB的寬動態(tài)范圍內(nèi)進行獨立的功率測量或同時比值

測量。集成化的測試裝置可以在不使用倍頻器的情況下，測量達6GHz裝置的傳輸和反射特性。 為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而**的測量，特提供了TRL＊/LRM＊1校準。利用內(nèi)置適配器移去校準

技術(shù)，還能實現(xiàn)對非插入式器件的高精度測量。高穩(wěn)定度的頻率基準（選件1D5）提高了對高Q器件，

如表面聲波（SAW）器件、晶體諧振器或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。為了提高配置的靈活性，

選件011取消了內(nèi)置測試裝置，以便能選擇自己所需的測試裝置。

HP8753E選件011可與HP85046A/B和85047A S參數(shù)測試裝置以及供其它特殊應(yīng)用的專用測試裝置配套使

用。用于自動生產(chǎn)的新型選件可以刪除內(nèi)部顯示和降低儀器成本（選件1DT）。生產(chǎn)效率的提高 測試

時序功能允許一次鍵入來迅速、反復執(zhí)行復雜的任務(wù)。在時序工 作方式下，只需從面板測量一次，

分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程。還可以利用測試時序經(jīng)并行或HP-IB端口對外部裝置進行

控制。另一些生產(chǎn)率特點包括支持LIF和DOS格式的內(nèi)置軟盤驅(qū)動器、非易失存儲器、串行和并行接口

，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和

標記跟蹤功能。通過利用列表掃描工作方式來選擇待測試的特殊頻率以及在每個頻率范圍設(shè)置獨立的

中頻帶寬和功率電平，可以縮短測量時間。分段校準和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某

一區(qū)段上的矢量精度。非線性裝置的測試 為了對器件進行更先進的表征，選件002增加了諧波測量功

能。可以直接或以相對于基波的數(shù)顯示放大器的掃描二次和總諧波電平。按動一個按鈕，即可測量達

－40的諧波。功率計校準向?qū)?*輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的**功率。

HP 8753E自動對436A、437B、438A、EPM-441A或EPM-442A功率計進行控制，使在測試系統(tǒng)中任何處的

功率都調(diào)到具有功率計的精度，或?qū)⒕W(wǎng)絡(luò)分析儀接收機校準來進行**的**功率測量。為了測量混

頻器、調(diào)諧器和其它頻率轉(zhuǎn)換器件，頻率偏置工作方式允許對網(wǎng)絡(luò)分析儀獨立于接收機調(diào)諧。分析儀

很容易以固定中頻或掃描中頻測試方式完成變頻損耗、相位、群延遲和混頻器統(tǒng)調(diào)的測量。 時域分

析 利用選件010，能觀察在時域中的反射或傳輸響應(yīng)。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換進行計

算，以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時間變化的關(guān)系。兩種時域分析方法能觀察器件的階躍響應(yīng)或沖擊

響應(yīng)。定時選通可用來除去一些不希望的響應(yīng)，如接頭失配，選通結(jié)果則可在時域或頻率中顯示。

1TRL＊和LRM＊是直通—反射—傳輸線和傳輸線—反射—匹配校準技術(shù)的三取樣器執(zhí)行方式。技術(shù)指

標摘要 測試裝置 集成化的S參數(shù)測試裝置以50Ω（標準）或75Ω（選件075）提供完滿的正向和反向

測量。